SGW X-4A显微熔点仪 商品描述
应用范围：应用范围：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
SGW X-4A显微熔点仪 技术规格
性能指标
熔点测量范围：室温至320℃
zui小读数：0.1℃
测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
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SGW X-4A显微熔点仪
应用范围：应用范围：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
性能指标
熔点测量范围：室温至320℃
zui小读数：0.1℃
测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
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