XRF电镀层检测仪,天瑞仪器 返回列表页

Thick800A性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

Thick800A工作原理

X射线荧光什么是X射线?X射线存在于电磁波谱中的个特定区域,它由原子内部电子跃迁产生,其波长范围在0.1-100Å;能量大于100电子伏特.什么是X射线荧光?X射线荧光 是个原子或分子吸收了特定能量的光子后释放出较低能量的光子的过程

Thick800A标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

功能：精密测量金属电镀层的厚度；

测量范围从22(Ti)到92(U);5 层 (4 镀层 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光谱定性分析;测试方法面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987

化学镀银测厚仪应用群体主要集中在：电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝首饰、汽车配件、检测机构以及研究所和高等院校等；

Thick800A技术指标

化学镀银测厚仪型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量般为ppm到99.9% 。

镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

Thick800A应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

化学镀银测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

Thick800A化学镀银测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款XRF无损镀层测厚仪，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

金属厚度测量仪：俗称X荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪，电镀层厚度分析仪，金属镀层测厚仪，化学镀银测厚仪，电镀厚度测量仪，电镀厚度检测仪，连续度检测仪，光谱镀层测厚仪，镀层厚度分析仪，镀层测量仪，电镀层分析仪等；

Thick800A检测实例

是的镀层测厚仪生产企业， 产品打破了外垄断局面，性价比，在行业内销量*，分析仪器上市公司。公司专业生产镀层测厚仪Thick800A，气相色谱质谱仪（GCMS）,五金镀层测厚仪，x射线测厚仪，ROHS检测仪，手持式ROHS光谱仪，手持式，ROHS检测设备，电镀层测厚仪，五金镀层测量仪，天瑞ROHS仪，X射线镀层测厚仪。天瑞仪器成立于1992 年，以研究、生产、销售XRF荧光光谱仪起步，目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务，是内上市的分析仪器企业。

镀层测厚仪Thick800A展厅