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温度冲击试验箱为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
用途:蓄温式冷热冲击试验机为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
用途:蓄温式冷热冲击试验机为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
冷热冲击试验箱为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
BE-CH-100A(B.D)试验空间W500XH450XD450mm高低温冲击试验箱
BE-CH-150A(B.D)试验空间W600XH500XD500mm;温度冲击试验箱
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