X射线光谱测厚仪*天瑞集团多年研发的一款电镀工业仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测点，以及移动平台。X射线光谱仪的镀层Thick800A是天...

X射线光谱测厚仪*天瑞集团多年研发的一款电镀工业仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测点，以及移动平台。X射线光谱仪的镀层Thick800A是天...

光谱测厚仪本仪器专门针对镀银层膜厚测试仪厚度测量、镀层元素的的种类及含量的快速无损分析而设计，具如下特点：采用大面积（25mm^2）Si-pin半导体探测器，即...

光谱测厚仪本仪器专门针对镀银层膜厚测试仪厚度测量、镀层元素的的种类及含量的快速无损分析而设计，具如下特点：采用大面积（25mm^2）Si-pin半导体探测器，即...

标准配置 开放式样品腔。X射线光谱测厚仪精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电...

标准配置 开放式样品腔。X射线光谱测厚仪精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电...

电镀x射线测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。仪器介绍 X荧光测厚仪Thick800A是一款应用广泛的能量色散型X...

电镀x射线测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。仪器介绍 X荧光测厚仪Thick800A是一款应用广泛的能量色散型X...

型号：THICK600X荧光电镀层测厚仪厂家分析范围： Ti-U，可分析zui高3层15个元素X荧光电镀层测厚仪分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有...

型号：THICK600X荧光电镀层测厚仪厂家分析范围： Ti-U，可分析zui高3层15个元素X荧光电镀层测厚仪分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有...

光谱镀银测厚仪1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Co...

光谱镀银测厚仪1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Co...

荧光X射线光谱测厚仪在使用中，不仅工作效率快，测量方便，另外测量数据同时也非常精准，这一点离不开设备所采用的X射线荧光检测技术，利用X射线穿透被测物，通过射线穿...

荧光X射线光谱测厚仪在使用中，不仅工作效率快，测量方便，另外测量数据同时也非常精准，这一点离不开设备所采用的X射线荧光检测技术，利用X射线穿透被测物，通过射线穿...