XT-50型冲击试样缺口投影仪我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器。
冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。是理化试验室的bi备专用设备
二、技术参数1：
1.投影屏直径：180mm
2.冲击试样缺口投影仪方工作台尺寸：110×125mm
3.圆工作台直径：90mm
4.工作台玻璃直径：70mm
三、技术参数2：
1.工作台行程：
纵向：±10mm
横向：±10mm
2.冲击试样缺口投影仪升降：±12mm（无刻度）
3.工作台转动范围：0~360°（无刻度）
4.仪器放大倍率：50X
5. 物镜放大倍率：2.5X
四、技术参数3：
1.投影物镜放大倍率：20X
2.光源（卤钨灯）：12V100W
3.电源：220V50Hz
4.冲击试样缺口投影仪外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）
5.重量：约18Kg
五.主要配置：
1.冲击试样缺口投影仪主机 一台
2.底座调整钮 四个
3.电源线 一根
4.卤钨灯 二个
5.平板玻璃 一块
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