10μｍ高精度检测※,CMOS型微型激光位移传感器HG-C诞生！
※HG-C1030(-P)的情况
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CE 、FDA 已取得。
CE : EMC指令(HG-C1050L(-P) 除外)
FDA : HG-C1050L(-P)除外
2016年6月 增加模拟电流输出。
关于模拟输出，“模拟电压输出”“模拟电流输出”可任选其一。（HL-C1050L(-P)除外）
特点
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配备0～5V的模拟电压输出※2
用测距传感器规定测定值
? 直线性：±0.1％F.S.※1
? 温度特性：0.03％F.S./℃
※1 : HG-C1030／HG-C1050／HG-C1100的情况
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※2 :从2016年6月生产的产品开始，也可选择模拟电流输出选项。（HL-C1050L(-P)除外）
<紧凑>
形状达到业内小型级别※的CMOS激光传感器 （※2015年5月，根据本公司调查）
设计出内部安装有镜面的新型光学系统 |
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采用铝铸外壳，使机身免受变形和温度的困扰 |
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<占优势的稳定检测>
实现1/100ｍｍ的高精度检测
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配备便利的功能
教导&窗口比较模式
存在检测物体的状态下，只需按下 “TEACH”键，即可简单地设定基准值。
另外，在2个基准值范围内即判为OK，超出范围即判为NG，1个输出即可做出判定。
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| 除教导&窗口比较模式外，还配备有[上升沿微分模式]、[下降沿微分模式]以及[通常检测模式]。 在通常检测模式下，可使用基本教导方法中的“2点教导”，存在微小物体和背景物体的情况下， 还可使用便捷的[限位教导]。 |
设定定时功能
可设定定时器的动作:“OFF延迟定时器”、“ON延迟定时器”、“单触式定时器”、“无定时器”。定时时间固定为5ms。
| OFF延迟定时器 |
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峰值、谷值保持功能
配备有峰值保持功能或者谷值保持功能。
峰值保持功能：该功能有效时，将会保持测量值的zui大值，显示并输出保持值。
谷值保持功能：该功能有效时，将会保持测量值的zui小值，显示并输出保持值。
※不能同时设定峰值保持功能和谷值保持功能。
※设定峰值保持功能或者谷值保持功能时，如执行调零功能，则会使所保持的测量值复位。
基准值微调功能
可在测量画面中微调基准值。教导后，也可对基准值进行微调。
按键锁定功能
可使按键操作失效，以免错误地更改已设定的条件。
※关于其他功能以及各功能的设定步骤，请参照「使用注意事项 PRO模式设定」。
微晶石平整度检测新利器[HG-C1050L]
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陶瓷行业特别*
方式，有效区分表层(透明)与底层(非透明)平面，准确测量表层的平整度。
搭载CMOS，高精度&小尺寸兼顾
继承HG-C1000搭载高精度CMOS及小尺寸的特性，在此基础上追加微晶石检测方式，实现光泽表面的精准检测。
双重模拟输出可切换
配备模拟电流4mA～20mA输出，模拟电压0V～5V输出，两种输出方式可切换，用户按需选择。(默认：模拟电流输出)
用途
真实传达测量值
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小型?轻量
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长距离测量
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的段差检测性能
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种类
| 种类 | 形状 | 测量中心距离 和测量范围 | 重复 精度 | 光束直径 (注1) | 型号 | |
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| NPN输出 | PNP输出 | |||||
| 检测中心 30mm型 |  | 30±5mm | 10μm | 约ø50μm | HG-C1030 | HG-C1030-P |
| 检测中心 50mm型 | 50±15mm | 30μm | 约ø70μm | HG-C1050 | HG-C1050-P | |
| 检测中心 50mm型 | 50±4mm | 20μm | 约ø150μm | HG-C1050L | HG-C1050L-P | |
| 检测中心 100mm型 | 100±35mm | 70μm | 约ø120μm | HG-C1100 | HG-C1100-P | |
| 检测中心 200mm型 | 200±80mm | 200μm | 约ø300μm | HG-C1200 | HG-C1200-P | |
| 检测中心 400mm型 | 400±200mm | 300μm (检测距离 200～400mm) 800μm (检测距离 400～600mm) | 约ø500μm | HG-C1400 | HG-C1400-P | |
| (注1)： | 测量中心距离处的值。按照中心光强度的1/e2(约13.5%)定义这些值。 如果定义范围外有漏光，并且检测点范围的反射率高于检测点本身，则结果可能会受到影响。 |
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